精密金型の品質向上VE事例
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精密金型の品質向上VE事例
半導体パッケージの貫通穴付きパッケージにおいて、金型に貫通穴を成形させるためのピンを配置します。しかし、このピンが固定ピンである場合、成形時に発生するバリにより貫通穴がふさがる事があります。このバリの除去のため本来不要であるバリ取り工程を追加する必要があり、余分な工数がかかってしまいます。
半導体パッケージ成形時に貫通穴が樹脂バリによりふさがるのを防止する方法として、モールド金型で配置しているピンを可動式にする方法があります。ピンを可動式にすることで、金型のバラツキ・部品の出来栄え等に左右されず安定して貫通穴の樹脂バリを抑制する事が可能です。ピン可動方法としては、ウレタンゴム・スプリング・皿ばね等を用いることで金型の隙間発生を抑制し、樹脂バリの発生を防止します。
半導体パッケージにおいて貫通穴を要する樹脂成形を行う際、金型にピンを配置しますが、このピンが固定式の場合、金型部品のバラツキ等により貫通穴が樹脂バリによりふさがってしまう場合があります。この樹脂バリで貫通穴がふさがるのを防止するため、金型に配置するピンを可動方式にし金型に発生する隙間を抑制する事で、樹脂バリによる貫通穴のふさがりを防止する事が可能となります。
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